北京合能阳光新能源技术有限公司

SD-300i晶片表面缺陷测试仪

价格:面议 2024-08-28 11:00:01 4530次浏览

产品介绍:

SD-300i用于测定单晶材料的表面缺陷,适用于科研、工业生产等需求。该仪器还是一台半自动高精度定向仪,实现了缺陷和定向双功能。

产品特点:

缺陷和定向双功能

配有射线窗口电磁光闸和可靠的射线防护罩,确保安全使用

表格和曲线的形式显示,一目了然

速度快,重复性好

效率高,数据实时处理

技术参数:

测试时间:1-2分钟

重复性精度:±5。

测角精度为±15

最小读数1

典型客户:

台湾及国内蓝宝石及半导体客户广泛应用。

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