济南千斗工业科技有限公司

大冢电子膜厚计FE-300

价格:1000 2020-09-23 10:07:32 1932次浏览

它是一种紧凑且低成本的膜厚计,可以通过高精度光学干涉法轻松测量膜厚。

我们采用了一体式外壳,将必要的设备容纳在主体中,从而实现了稳定的数据采集。

支持从薄膜到厚膜的各种膜厚

使用反射光谱进行膜厚分析

紧凑且价格低廉,实现了非接触,无破坏的高精度测量

简单的条件设置和测量操作!任何人都可以轻松测量薄膜厚度

使用峰谷法,频率分析法,非线性最小二乘法,优化法等,可以进行多种膜厚测量。

通过非线性最小二乘法的膜厚分析算法,可以进行光学常数分析(n:折射率,k:消光计数)。

测量项目

反射率测量

膜厚分析(10层)

光学常数分析(n:折射率,k:消光计数)

测量目标

功能膜,塑料

透明导电膜(ITO,银纳米线),相位差膜,偏光膜,AR膜,PET,PEN,TAC,PP,PC,PE,PVA,胶粘剂,胶粘剂,保护膜,硬质大衣,防指纹等

半导体

化合物半导体,硅,氧化膜,氮化膜,抗蚀剂,SiC,GaAs,GaN,InP,InGaAs,SOI,蓝宝石等。

表面处理

DLC涂层,防锈剂,防雾剂等

光学材料

滤镜,增透膜等

FPD

LCD(CF,ITO,LC,PI),OLED(有机膜,密封剂)等

其他

硬盘,磁带,建筑材料等

技术指标

类型薄膜类型标准型测量波长范围300-800纳米450-780纳米测量膜厚范围

(SiO2换算)3纳米至35微米10nm-35μm光斑直径φ3mm/φ1.2mm样本量φ200×5(高)mm测量时间在0.1-10秒内电源供应AC100V±10%300VA尺寸,重量280(宽)x 570(深)x 350(高)mm,24公斤其他参考板,配方创建服务

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