美国博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供准确、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。

Bowman BA-100 Optics机型采用的的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

Bowman BA-100 Optics机型配备大面积的SDD(硅漂移探测器),有效拓展元素分析范围,适应严格的微区、超薄镀层,以及痕量元素分析需求。

的测试性能、突出的微区测量能力,Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。

稳定的X射线管

微聚焦50瓦Mo靶射线管(其它靶材可选);小于100um的测量斑点

射线出射点预置于射线管Be窗正中央

长寿命的射线管灯丝

ISO温度适应程序

多毛细管聚焦光学结构

显著提高X射线信号强度

获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度

小于100um直径的测量斑点